电路硬件 LOG-0214 2024.07.22 02 MIN FT测试 在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0224 2024.07.19 05 MIN CP测试 什么是 CP 测试 CP 测试，英文全称 Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试 - 个 Die 都能满足器件对象是… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0318 2024.07.04 01 MIN 继电器 继电器在原理图中起到控制切换电路的作用，本质上是可以控制的开关。通过对线圈通电或断电，实现触点的吸合或关闭，测试板上之… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0348 2024.07.03 08 MIN IC测试机 ATE 与 ATS ATE/ATS 即自动测试设备 / 自动测试系统，也称测试机，是测试工程师在 IC 测试中必须使用的工具。 ATS 通常将… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0320 2024.07.03 01 MIN 典型IO端口 接口类型 无需上拉电阻 电路内部已连接到电源，通常内部为互补CMOS *互补CMOS电路节点为一对互补的PMOS和NMOS串联形成反相器或N… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0241 2024.04.18 03 MIN 快速读取电阻值 色环电阻 贴片电阻 1. 三位数标注法 如常见的 103，前两位表示的是有效数字，第三位数表示科学计数法中 10 的幂指数，一般精度… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0327 2024.04.15 05 MIN 示波器 功能 观察电信号的波形 以及 测量信号的值和频率 结构 衰减电路的作用是将输入信号变换为适当的量值后再加到放大电路上，目的是… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0329 2024.04.11 10 MIN BCD工艺 BCD是一种单片集成工艺技术。1986年由意法半导体（ST）公司率先研制成功，这种技术能够在同一芯片上制作双极管bipolar，CMOS和D… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0354 2024.04.09 14 MIN 芯片测试 测试的目的就是为了验证生产出来的芯片是否达到当初的设计要求（spec 需求），通过测试对芯片进行筛选分类，把一些残次品分选出… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0357 2024.03.19 06 MIN 功率因数与PFC 电路中的负载总共可以分为三类——电阻、电容和电感。电阻是消耗功率的器件，可以理解为用电器，电容和电感是储存功率的器件，可… READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0364 2024.03.18 05 MIN PCB layout流程 首先需要注意，PCB layout谈论的是制作工艺，而非电路设计。所以即使不太懂什么叫电路设计，只要确定有一个可正常工作的电路图 … READ_ → 0 SIG
电路硬件 LOG-0423 2024.03.12 07 MIN 芯片的ESD防护 ESD的危害和防护 ESD对器件造成损伤 大多数ESD损害发生在人的感觉范围以下。人对静电放电的感知电压是3KV，而很多电子元件在几… READ_ → 0 SIG
