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[ SECTOR // 分类 ]

电路硬件

LOG-0283 2025.07.24 05 MIN

I2C时序分析

协议 1.空闲状态 I2C总线总线的SDA和SCL两条信号线同时处于高电平时，规定为总线的空闲状态。此时各个器件的输出级场效应管均处…

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LOG-0301 2025.07.09 04 MIN

芯片的工艺角

芯片制造过程中的工艺偏差，如掺杂浓度、扩散深度、刻蚀程度等，会导致不同批次间、同批次不同晶圆间、甚至同一 晶圆上的不同芯…

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LOG-0126 2025.03.06 05 MIN

FPGA程序固化

FPGA 固件存储 Intel 或 Xilinx 的 FPGA 芯片，使用的是基于 SRAM 结构的查找表，而 SRAM 的一大特性就是掉电数据会丢失，当使…

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LOG-0136 2025.01.27 03 MIN

芯片测试Pattern

Pattern 在芯片测试行业通常表示需要测试芯片的时序特征。在测试芯片的过程中，ATE 机台会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的…

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LOG-0151 2024.11.24 03 MIN

MDIO时序分析

MDIO 接口（Management Data Input/Output Interface），最早在 IEEE 802.3 的第 22 卷定义，后来在第 45 卷又定义了增强版本的…

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LOG-0164 2024.11.20 04 MIN

热敏电阻

热敏电阻是一种传感器电阻，其电阻值随着温度的变化而改变。按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻（PTC thermistor，即 Posi…

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LOG-0169 2024.10.14 03 MIN

Flash芯片

Flash ROM 是近些年应用最广、速度最快的只读存储器，原理是从 EEPROM 基础上改进发展来的，特点是擦除和编程速度快…

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LOG-0173 2024.10.14 02 MIN

芯片的Bank

简单来说，一组 Bank 就是共用一个电源的一组 I/O 管脚。 为了提高器件使用灵活性，便于管理和适应多种电器标准，FPGA 器件的 I…

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LOG-0170 2024.10.11 06 MIN

磁珠

磁珠的全称为铁氧体磁珠滤波器 (另有一种是非晶合金磁性材料制作的磁珠)，是一种抗干扰元件，滤除高频噪声效果显著。 本质上来…

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LOG-0186 2024.10.09 05 MIN

JTAG

 JTAG (Joint Test Action Group，联合测试工作组) 是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1 兼容），主要用于芯片内部测试。…

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