协议 1.空闲状态 　I2C总线总线的SDA和SCL两条信号线同时处于高电平时，规定为总线的空闲状态。此时各个器件的输出级场效应管均处在截止状态，即释放总线，由两条信号线各自的上拉电阻把电平拉高。 2.起始位与停止位 起始信号：当SCL为高期间，SDA由高到低的跳变；启动信号是一种电平跳变时序信号，而不是一个电平信号。 停止信号：当SCL为高期间，…

芯片制造过程中的工艺偏差，如掺杂浓度、扩散深度、刻蚀程度等，会导致不同批次间、同批次不同晶圆间、甚至同一 晶圆上的不同芯片的工作情况都存在差异。在一片 wafer 上，每点的载流子平均漂移速度不可能都是一样的，随着电压、温度不同，它们的特性也会不同，把他们分类就有了 PVT（Process，Voltage，Temperature），而 Proces…

FPGA 固件存储 Intel 或 Xilinx 的 FPGA 芯片，使用的是基于 SRAM 结构的查找表，而 SRAM 的一大特性就是掉电数据会丢失，当使用 JTAG 将 SRAM 配置文件（.sof）配置到 FPGA 芯片中后，这些数据是直接存储在 SRAM 结构的查找表中的，因此，一旦芯片掉电，则 SRAM 中的数据将丢失，再次上电后， SR…

Pattern 在芯片测试行业通常表示需要测试芯片的时序特征。在测试芯片的过程中，ATE 机台会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的时序，而在芯片的输出管脚比较输出时序，由此测试芯片是否满足其功能。狭义上可以将测试 pattern 理解为芯片的真值表。 与 IC 设计产生的时序不同，一般测试用的 Pattern 中的时序都是分割好周期的。而不同 AT…

MDIO 接口（Management Data Input/Output Interface），最早在 IEEE 802.3 的第 22 卷定义，后来在第 45 卷又定义了增强版本的 MDIO，其主要被应用于以太网的 MAC 和 PHY 层之间，用于 MAC 层器件通过读写寄存器来实现对 PHY 层器件的操作与管理。 MDIO 接口包括两条线，MD…

热敏电阻是一种传感器电阻，其电阻值随着温度的变化而改变。按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻（PTC thermistor，即 Positive Temperature Coefficient thermistor）和负温度系数热敏电阻（NTC thermistor，即 Negative Temperature Coefficient therm…

Flash ROM 是近些年应用最广、速度最快的只读存储器，原理是从 EEPROM 基础上改进发展来的，特点是擦除和编程速度快，因此得名为闪速（或闪烁）存储器，简称闪存。 存储区域 描述 Flash 的存储区域常用到扇区、块这些专用名词，其实是从早期的软盘、硬盘等存储器发展而来，目的是将一个存储器划分为多个区域，更方便的编程管理…

简单来说，一组 Bank 就是共用一个电源的一组 I/O 管脚。 为了提高器件使用灵活性，便于管理和适应多种电器标准，FPGA 器件的 IO 引脚被划分为若干个组（bank），连接到同一个外部电压下。每个 bank 的接口标准由其接口电压 Vcco 决定，一个 bank 包含多个 Vcco 引脚，这些引脚必须与相同的外部电压相连，即同一 bank …

磁珠的全称为铁氧体磁珠滤波器 (另有一种是非晶合金磁性材料制作的磁珠)，是一种抗干扰元件，滤除高频噪声效果显著。 本质上来说，磁珠其实就是单匝的线圈，而电感是多匝的线圈。有一匝以上的线圈习惯称为电感线圈，少于一匝（导线直通磁环）的线圈习惯称之为磁珠，所以磁珠就是单匝电感，因此电感量小，与其寄生电容的共振频率就高（在这个频率点上，阻抗最高），因而对高…

 JTAG (Joint Test Action Group，联合测试工作组) 是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1 兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持 JTAG 协议，如 DSP、FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线：TMS（测试模式选择）、TCK（测试时钟输入）、TDI（测试数据输）、TDO…