● REC NAZUKI LAB // TERMINAL 赛博世界的探险者 --:--:--
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实验室

LOG-0283 2025.07.24 05 MIN

I2C时序分析

协议 1.空闲状态 I2C总线总线的SDA和SCL两条信号线同时处于高电平时,规定为总线的空闲状态。此时各个器件的输出级场效应管均处…

LOG-0301 2025.07.09 04 MIN

芯片的工艺角

芯片制造过程中的工艺偏差,如掺杂浓度、扩散深度、刻蚀程度等,会导致不同批次间、同批次不同晶圆间、甚至同一 晶圆上的不同芯…

LOG-0126 2025.03.06 05 MIN

FPGA程序固化

FPGA 固件存储 Intel 或 Xilinx 的 FPGA 芯片,使用的是基于 SRAM 结构的查找表,而 SRAM 的一大特性就是掉电数据会丢失,当使…

LOG-0136 2025.01.27 03 MIN

芯片测试Pattern

Pattern 在芯片测试行业通常表示需要测试芯片的时序特征。在测试芯片的过程中,ATE 机台会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的…

LOG-0151 2024.11.24 03 MIN

MDIO时序分析

MDIO 接口(Management Data Input/Output Interface),最早在 IEEE 802.3 的第 22 卷定义,后来在第 45 卷又定义了增强版本的…