硬件资源板卡
| 板卡名称 | 说明 | 资源类型 |
| FOVI | 八路浮动电压电流源 | 电源类 |
| FPVI | 浮动双通道功率电压电流源 | |
| FHVI | 精密浮动高压电压电流源 | |
| TIF | 测试系统接口单元 | 信号类 |
| CBIT128 | 用户继电器驱动单元 | |
| TMU | 四路时间测量单元 | |
| DIO | 数字测试模块 | |
| HAD4 | 高精度差分测量模块 | |
| TPS | 高精度时间测量单元 |
系统函数
延时等待
| 等待时间 mS | |
| DelaymS | 1 |
等待时间范围:0.001~65535mS
测试结果处理
| 被测参数序号 | 被测同类参数序号 | 系数 | |
| AdToPparam | 0 | 0 | 1 |
将实测结果 (pSite->RealData [i]) 经单位换算(乘系数 MultData)和数据有效位设置后,放到指定的测试结果缓冲区,便于测试系统对结果分析判定
存储测试结果到数组
| 工位数 | 结果数组名 | |
| GetResultAll | 4 | Result |
工位数一般与程序总工位一致
设定测试结果到指针,形成测试结果到测试界面
| 结果对应指针名 | 工位数 | 被测同类参数序号 | 结果数组名 | |
| LogResultAll | VFB_Post | 4 | 0 | result |
char *VFB Post ="VFB Post"; //指针定义,“VFB_Post”即测试项目名称 double results[4]={0.0}; //建立结果数组results FOVI_MeasureVSamp(0,Average_Value,0.01,200): //测试FOVI0的值 GetResultAll(4,results); //获取4个site的FOVI0(逻辑通道)的值并赋给results数组 LogResultAll(VFB Post,4,0,results); //把results这个数组内的值对应到VFB_Post指针,结果返回给软件输出到界面
获取指定工位测试结果
| 工位号 | 获取测试结果的数据 | |
| GetResult | 0 | Result |
设定测试结果
| 结果对应指针名 | 工位号 | 被测同类参数序号 | 要赋值的测试结果 | |
| LogResultAll | VFB_Post | 0 | 0 | result |
获取当前 site 状态
| 获取测试结果的数据 | |
| GetSiteState | 0(不测试) |
| 1(测试) |
返回 0X03 (00000011) 表示 site1、2 需要测试
设定当前 site 状态
| 获取测试结果的数据 | |
| SetSiteState | 0(不测试) |
| 1(测试) |
设定 VI 源通道在虚拟示波器中的名称
| 源类型 | 电源通道号 | 源名称 | |
| SetPinCfg | FOVI | CH0 | “VIN” |
| FPVI | |||
| FHVI |
AWG 函数
实现 AWG 功能的板卡:FPVI/FOVI/FHVI/HAD
程序结构:
・生成并载入波形
・采样与触发设置
・同步设置并输出
・单 / 多通道输出
・获取测量值
生成波形
生成斜波(均匀变化)
| 输出数组名 | 输出数据量 | 开始值 | 结束值 | |
| AWG_CreateRampData | RAMP | 100 | 2.0 | 3.0 |
生成方波
| 输出数组名 | 输出数据量 | 波峰值 | 直流偏置值 | 循环次数 | |
| AWG_CreateSquareData | RAMP | 100 | 2.0 | 1.0 | 50 |
生成正弦波
| 输出数组名 | 输出数据量 | 波峰值 | 直流偏置值 | 相位偏移 | |
| AWG_CreateSineData | RAMP | 100 | 2.0 | 1.0 | 0 |
生成三角波
| 输出数组名 | 输出数据量 | 波峰值 | 直流偏置值 | 相位偏移 | |
| AWG_CreateTriangleData | RAMP | 100 | 2.0 | 1.0 | 0 |
载入波形
| 通道 | 波形名 | 波形数组名 | 波形数组数据量 | |
| FXVI_AwgLoader | FXVI_CH0 | RampD | RAMP | 100 |
FOVI_AwgLoader (FOVI_CH0, RampD, RAMP, 100);// 载入 RAMP 中的波形数据到 FOVI 的 CH0 通道,命名为 RampD,输出点个数 100
配置输出波形
| 通道 | 输出点间隔 mS | 输出后采样前等待时间 mS | 采样数 | |
| FXVI_AwgSelect | FXVI_CH0 | 0.5 | 1 | 25 |
| 采样间隔 mS | 输出波形起始地址 | 输出波形终止地址 | 循环次数 |
| 0.01 | 0 | 99 | 1 |
输出点间隔范围 5uS~50mS
循环次数默认为 1
输出点值大于 1000 时表示一直循环
简化模式:默认在输出间隔一半的时候开始进行采样,采样间隔 10us,起始地址为 0,终止地址为输出点数量 – 1,循环 1 次。
| 通道 | 输出点间隔 mS | 采样数 | 输出点数量 | |
| FXVI_AwgSelect | FXVI_CH0 | 0.1 | 1 | 100 |
采样间隔 x 采样数≤输出点间隔 – 等待时间

FXVI_AwgSelect (FXVI_CH0, 0.5, 0.2, 25, 0.01, 0, 99, 1);
//AWG 输出间隔 0.5ms,输出后 0.2ms 开始采样,每次采样 25 次,采样间隔 0.01ms,输出波形从地址 0 开始到 99 结束,循环 1 次。
FXVI_AwgSelect (FXVI_CH0, 0.1, 1, 100);
//AWG 输出间隔 0.1ms,输出后 0.05ms 开始采样,每次采样 1 次,采样间隔 0.01ms,输出波形从地址 0 开始到 99 结束,循环 1 次
?? 采样和输出点区别
配置同步触发参数
| 通道 | 同步内容 | 触发值 V/mA | 触发方式 | |
| FXVI_AwgSetTrigVal | FXVI_CH0 | 1/Current | 1 | 1/Pos_Edge |
| 0/Voltage | 0/Neg_Edge |
FXVI_AwgSetTrigVal (FXVI_CH1, Voltage, 4.0, Pos_Edge);//FXVI CH1 通道设置触发电压为 4.0V,上升沿触发。
设置同步触发通道
| 通道 | 是否开启同步 | |
| FXVI_AwgSetSync | FXVI_CH0 | 1/Sync_ON |
| 0/Sync_OFF |
对于设置了同步的通道,最好在 AWG 测试结束后对同步进行清零,防止因未清零导致下一次测试时误启动,若确定后面仍需启动,可以在最后一次结束时清零。
扫描波形触发
| 触发通道 | 输出通道(可以多个值) | |
| AWG_RunTrigSync | AWG_FOVI0 | AWG_FOVI0, AWG_FPVI0 |
进行完整扫描,扫描结束并返回相应触发地址的值
输出最多可以设置 16 个通道,同一小板内的通道不能同时输出。
同类源逻辑通道可设置为 0~31,超出 31 的逻辑通道建议在用户程序中修改配置的逻辑通道顺序
扫描波形触发并保持
| 触发通道 | 输出通道(可以多个值) | |
| AWG_RunTrigStop | AWG_FOVI0 | AWG_FOVI0, AWG_FPVI0 |
在扫描过程中触发时停止扫描,保持此时的输出并返回相应的触发地址
AWG_RunTrigStop(AWG_FOVI0, AWG_FOVI0, AWG_FPVI1);
// 同时输出 FOVI 的 CH0 和 FPVI 的 CH1 的 AWG 波形,以 FOVI 的 CH0 为触发通道,触发后保持此时输出并返回相应触发地址的值
扫描波形触发并输出指定值
| 输出值 V/mA | 触发通道 | 输出通道(可以多个值) | |
| AWG_RunTrigStopVal | 1 | AWG_FOVI0 | AWG_FOVI0, AWG_FPVI0 |
在扫描过程中触发时输出特定值,并返回相应的触发地址
AWG_RunTrigStopVal(0,AWG_FOVI0, AWG_FOVI0);
// 输出 FOVI 的 CH0 的 AWG 波形,以 FOVI 的 CH0 为触发通道,触发后输出通道输出 0V, 并返回相应触发地址的值
扫描波形触发并输出指定地址的值
| 输出地址 | 触发通道 | 输出通道(可以多个值) | |
| AWG_RunTrigStopNum | 1 | AWG_FOVI0 | AWG_FOVI0, AWG_FPVI0 |
在扫描过程中触发时输出指定地址对应的值,并返回相应的触发地址
AWG_RunTrigStopNum(1,AWG_FOVI0, AWG_FOVI0);
// 输出 FOVI 的 CH0 的 AWG 波形,以 FOVI 的 CH0 为触发通道,触发后输出通道输出 AWG 波形第 1 个点的电压值,并返回相应触发地址的值。
获取输出通道的值
| 输出通道 | |
| AWG_RunTrigStopVal | FOVI_CH0 |
存储波形数据到数组
| 测试工位 | 测试通道 | 数据类型 | 数组名 | |
| AWG_RunTrigStopNum | SITE1 | AWG_FOVI0 | 0/MV (电压) | Results |
| 1/MI (电流) |
FOVI_AwgMeasResult(SITE1,FOVI_CH0, MI,results);
// 将 SITE1 FOVI 的 CH0 通道的 AWG 测试的电流数据获取出来,存储到 results 数组中。
FXVI 模式
脉冲工作模式时间:Tdelay= Tpulse* Iout (A) / 0.4
大电流脉冲依靠电容储能,需要恢复时间进行电容充电,充电电流 400mA
设置 FPVI 的状态,包括工作模式、电压量程或电流量程,但不输出
| 通道 | 模式 | 电压档位 | 电流档位 | 钳位上限 | 钳位下限 | |
| FXVI_setMode | FXVI_CH0 | pFV/pFI | pFPVI_5V | pFPVI_10mA | 10 | -10 |
FOVI_setMode(FPVI_CH0,pFV,pFPVI_5V,pFPVI_10mA,10,-10)
//FPVI0 通道为输出电压模式;电压档位为 5V;电流档位为 10mA,电流钳位 – 10mA~10mA
设置电源通道的输出值
| 通道 | 输出值 (取决于 Mode 设置的模式) | |
| FXVI_SetOutVal | FXVI_CH0 | 1V/1mA |
缓慢输出电源通道的输出值
| 通道 | 开始值 | 结束值 | 耗时 | |
| FXVI_setOutValSlow | FXVI_CH0 | 0V/0mA | 1V/10mA | 5mS |
设置 site 的电源输出
| 通道 | Site | 输出值 | |
| FXVI_SetOutValSite | FXVI_CH0 | SITE1 | 1V/1mA |
加压模式下切换电流档位 / 加流模式下切换电压档位
| 通道 | 档位 | |
| FXVI_ChangeIRang | FXVI_CH0 | pFXVI_1mA |
| FXVI_ChangeVRang | pFXVI_5V |
根据量程设置通道钳位值
| 通道 | 正钳位(百分比) | 负钳位 | |
| FXVI_SetClamp | FPVI_CH0 | 10 | 60 |
FPVI_ChangeIRang (FPVI_CH0,pFPVI_1A);// FPVI0 通道电流档位为 1A
DelaymS(2);
FPVI_SetClamp (FPVI_CH0,10,60); //FPVI0 通道正钳位为 1A*10%=100mA;负钳位为 1A*60%=600mA
测量输出值
| 通道 | |
| FXVI_MeasureV | FPVI_CH0 |
| FXVI_MeasureI |
此函数默认采样 25 次,采样时间间隔 10uS
测量输出值
| 通道 | 模式 | 采样间隔 mS | 采样次数 | |
| FXVI_MeasureVSamp FXVI_MeasureISamp | FPVI_CH0 | 0/Average_Value | 0.01 | 100 |
| 1/Max_Value | ||||
| 2/Min_Value |
更改量程测输出电流
| 通道 | 电流量程 | 测量等待时间 | |
| FXVI_MeasureIRS | FPVI_CH0 | pFPVI_1mA | 5mS |
测量完成后会更改回原有量程
设置响应速度
| 通道 | 响应速度 | |
| FXVI_RespondSelect | FPVI_CH0 | 0(50uS) |
| 1(200uS) | ||
| 2(500uS) | ||
| 3(1mS) |
默认为 1,过快产生超调等需要减慢响应速度时使用
电源输出开关
| 通道 | 状态 | |
| FXVI_Connect | FPVI_CH0 | 0(关) |
| 1(开) |
板初始化
| 通道 | |
| FXVI_Init | FPVI_CH0 |
断开输出继电器并清零
使用步骤:
1. 使用前选定通道、模式、量程等 SetMode,需要延时至少 3ms 再进行其他操作
2. 输出设定的电压电流值 SetOutVal/SetOutValSlow/SetOutValSite,函数只设定了输出值,实际电压电流并没有完全加出来,需要增加相应的延时时间才能输出设定的值
3. 测量需要的信号 MeasureVSamp/MeasureISamp
4. 输出清除置零 SetOutVal/SetOutValSlow/SetOutValSite
5. 复位关闭 Init
CBIT
CBIT 参数总结:
RelayOn—— 列出的闭合,没列出的断开
RelaySetOn/RelaySetOff—— 列出的闭合 / 断开,没列出的保持原状
默认 —— 操作逻辑通道
S—— 操作物理通道
AB—— 合并 B 站的通道资源到 A 站使用
通断继电器 (逻辑通道)
| 通道 | |
| CBIT_RelayOn | -1 |
| CBIT_ABRelayOn | -1 |
设置需要闭合的用户继电器,以 – 1 结束,未列出的设置为断开。 操作继电器的逻辑通道
CBIT_RelayOn(–1);//断开每个site所有用户继电器。 CBIT_RelayOn(0,1,5,15,26,–1);//闭合每个site中0、1、5、15、26号用户继电器,断开其余用户继电器
通断继电器 (物理通道)
| 通道 | |
| CBIT_SRelayOn | -1 |
| CBIT_ABSRelayOn | -1 |
设置需要闭合的用户继电器,以 – 1 结束,未列出的设置为断开。 操作继电器的物理通道
闭合继电器
| 通道 | |
| CBIT_RelaySetOn | -1 |
设置需要闭合的用户继电器,以 – 1 结束,未列出的保持不变。 操作继电器的逻辑通道
断开继电器
| 通道 | |
| CBIT_RelaySetOff | -1 |
设置需要断开的用户继电器,以 – 1 结束,未列出的保持不变。 操作继电器的逻辑通道
继电器,以 – 1 结束,未列出的保持不变。 操作继电器的物理通道
DIO
设置 DIO 通道资源
| Site | 板(可多个) | |
| DIO_SetChCfg | 3 | 0,1 |
DIO_SetChCfg (3,0,1);//// 将 DIO 第 1 块和第 2 块板分配给 site4
选通 PIN 脚
| 管脚号(可多个) | |
| DIO_SelPin | -1 |
管脚以逗号分隔,以 – 1 结尾。未标注的 PIN 脚断开。如全断开则写 – 1
设置参考电平
| 模块号 (0/1/2/3) | VIH | VIL | VOH | VOL | |
| DIO_SetVref | 0 | 6 | 0 | 4 | 2 |
不同的模块要分别设置,电压范围 – 2~+8V
设置向量周期或频率
| 值 | 单位 | |
| DIO_SetPatAdd | 100 | kHz |
可选单位”MHZ”“KHZ”“HZ”“MS”“US”“NS”,实际有效设置范围 10kHz–5000kHz
设置向量运行时的参数
| 驱动前沿时刻 | 驱动后沿时刻 | 比较前沿时刻 | 比较后沿时刻 | 单位 | 管脚号列表 | |
| DIO_SetPatAdd | 0 |
可选单位 “MHZ”、“KHZ”、“HZ”、“MS”、“US”、“NS”、”%”), 其中 “%” 以 SetClock 设置的值代表 100%。实际有效设置范围要根据 DIO_SetClock 设置值相适应
设置向量运行时的波形格式
| 格式代码 | 管脚号(可多个) | |
| DIO_SetPatAdd | 0 |
……
设置向量地址
| 地址类别 | PAT 地址 | |
| DIO_SetPatAdd | 0 |
载入向量
| 向量类型 | 载入次数 | 向量字符串 | |
| DIO_SetPatAdd | 0 (字符串) | 3 | |
| 1 (文件) |
向量字符串,基本字符:1 0 H L X (驱动高低比较高低不关心或三态),空格或_作为分隔符,逗号作为向量行的分隔符,每一行向量最右边为 PIN0,从右到左依次增加。
运行向量
| 运行次数 | 起始地址 | 结束地址 | |
| DIO_SetPatAdd | 1 |
该函数执行不会等到向量运行结束再退出,因此执行后要添加 WAIT 时间等待,用户工程师要估算向量运行的时间等待,否则向量运行未结束就读取运行结果将会得到非真实的结果
循环运行向量
| 起始地址 | 结束地址 | |
| DIO_LoopPattern |
强制停止运行向量
| 停止方式 | 起始地址 | 结束地址 | |
| DIO_StopPattern | 0(立即停止) | ||
| 1(运行完该次循环后停止) |
获取运行向量结果
| 模块号(0/1/2/3) | |
| DIO_StopPattern | 0 |
返回值:0——PASS/1——FAIL
0XFFFF—— 向量正在运行
5(0101)——PIN0 PIN2 FAIL
获取运行向量 FAIL 结果
| 模块号(0/1/2/3) | |
| DIO_GetFailNumber | 0 |
返回值:
0——PASS
5——5 个管脚 FAIL
65535—— 向量正在运行
获取指定失效次数
| 枚举定义板卡号 | 枚举定义 PIN 脚 | |
| DIO_GetSelPinFailCount |
获取DIO_0 pin1的失效次数 Int count = 0; count = DIO_GetSelPinFailCount(DIO_Board0,Sel_Pin1); 获取DIO_0~1 pin0~7的失效次数 Int count = 0; count = DIO_GetSelPinFailCount(DIO_Board_Enum,DIO_PinSel_Enum); enum DIO_Board_Enum{ DIO_Board0 = 0,//DIO_0板卡 DIO_Board1 = 1 //DIO_1板卡 }; enum DIO _PinSel_Enum{ Sel_Pin0= 0,//Pin0 Sel_Pin1= 1,//Pin1 Sel_Pin2= 2,//Pin2 Sel_Pin3= 3,//Pin3 Sel_Pin4= 4,//Pin4 Sel_Pin5= 5,//Pin5 Sel_Pin6= 6,//Pin6 Sel_Pin7= 7 //Pin7 };
获取失效引脚对应 log 地址
| 板卡号 | Pin 脚 | 失效 patten 编号 (0~255) | |
| DIO_GetSelPinFailLogAddr | DIO_Board0 | Sel_Pin1 | 2 |
获取DIO_0 pin1的第2个失效pattern所对应的log存储地址。 intLogAddr= 0; LogAddr= DIO_GetSelPinFailLogAddr(DIO_Board0,Sel_Pin1,2)
设置 DIO I2C 总线
| Pin 脚 | |
| DIO_I2CSet | 0,1,2,3 |
管脚两两一组,代表总线 0~3 的 SCL 和 SDA,单 DIO 板上的 8 个 pin 脚最多分配 4 个 I2C 通道
物理 I2C 接口有两根双向线:串行时钟线(SCL)和双向串行数据线(SDA),可用于发送和接收数据,但是通信都是由主设备发起,从设备被动响应,实现数据的传输。SDA 负责在设备间传输串行数据,SCL 负责产生同步时钟脉冲。
设置 I2C 总线周期或频率
| 使用总线数量 (1~4) | 周期或频率值 | 单位 | |
| DIO_I2CSet | 1 |
可选单位”MHZ”、“kHZ”、“HZ”、“mS”、“uS”、“nS”),实际有效设置范围 10kHz –5000kHz
设置 I2C 通道时间参数
| 总线通道号 | 驱动前沿时刻 | 驱动后沿时刻 | 比较前沿时刻 | 比较后沿时刻 | 单位 | |
| DIO_I2CSetDelay | 0,1,2,3 | 0 |
在设置时钟周期时会有默认的时间参数,在使用 I2C 总线时可以不用此函数进行设置,时间参数会影响 I2C 总线的运行
I2C 写功能??
| 位宽选择 | 设备地址数组 | 寄存器数组 | |
| DIO_ IICWriteDataAllSyncSites | 0,1,2,3 | 0 |
I2C 读功能??
TMU
TMU 初始化
| 通道号 | |
| TMU_Init | 0,1,2,3 |
设置 TMU 测量模式
| 通道号 | 测量模式 | 输入阻抗(通常选 1) | 触发电压类型(通常选 0) | 触发释抑时间(输入值 * 10ns) | 触发电压 1 | 触发电压 2 | 测量范围 | ||
| TMU_SetMode | 0,1,2,3 | 0 | 0(低输入阻抗 50Ω) | 0/LV(低电压≤10V) | 20 | 不用到时建议与 TGV1 相同 | 100 | ||
| 1/HV(高电压>10V) | |||||||||
| 1/HR(高输入阻抗 1MΩ) | pFilter_200ns | pLowAccuracy | |||||||
| 2(高速测量且 < 2V) |
测量模式:
- 0 (pTMU_Frequency/MF)— 测量频率 (KHZ), 触发与 TGV1 有关,用上升沿或下降沿测量。
- 1 (pTMU_Cycle)— 测量周期 (mS), 触发与 TGV1 有关,用上升沿或下降沿测量。
- 2 (pTMU_HighLevel/MHT)— 高电平宽度 (mS), 触发与 TGV1 有关
- 3 (pTMU_LowLevel/MLT)— 低电平宽度 (mS), 触发与 TGV1 有关
- 4 (pTMU_Rise)— 上升沿时间 (mS), 触发与 TGV1–>TGV2 有关,设置时 TGV1<TGV2.
- 5 (pTMU_Drop)— 下降沿时间 (mS), 触发与 TGV1–>TGV2 有关,设置时 TGV1>TGV2.
- 6 (pTMU_RiseToRise)、7 (pTMU_RiseToDrop)、8 (pTMU_DropToRise) 、9 (pTMU_DropToDrop)— 通道内 Start 信号、Stop 信号触发时间差(测两个不同事件触发延时时间)。触发与 TGV1–>TGV2 有关,TGV1 设置通道 Start 信号,TGV2 设置通道 Stop 信号。6–上升沿到上升沿 PP; 7–上升沿到下降沿 PN; 8 – 下降沿到上升沿 NP;9 – 下降沿到下降沿 NN;
- 11 (pTMU_DutyCycle)— 测量占空比。
触发释抑时间为输入值 * 10ns,如 10 均表示 100ns,也可输入 pFilter_100ns
测量范围默认选择低速模式,该值一般要设置成小于实际频率值或大于被测信号的最长时间。当频率大于 1M(时间参数小于 1uS)时,系统自动选择高速模式测量。也可用枚举量 pLowAccuracy /pHighAccuracy 选择低速或高速模式
TMU 测量
| 通道号 | |
| TMU_Measure | 0,1,2,3 |
多次 TMU 测量求平均值
| 通道号 | 采样等待时间 mS | 采样次数 | |
| TMU_MeasureAver | 0,1,2,3 |
取指定周期的时间参数
| 通道号 | 周期数 | |
| TMU_StartNumber | 0,1,2,3 | 3 |
开始测试并清除历史数据
| 通道号 | |
| TMU_Start | 0,1,2,3 |
结束测试并清除历史数据
| 通道号 | |
| TMU_Stop | 0,1,2,3 |
精测测量单个波形
| 通道号 | |
| TMU_TDC_Init | 0,1,2,3 |
用于精测测量模式测量单个波形参数,待测时间长度一般不大于 1us。放在波形到来前
返回精测单个波形结果
| 通道号 | |
| TMU_TDC_Measure | 0,1,2,3 |
用于精测测量模式测量单个波形参数,待测时间长度一般不大于 1us。放在波形到来后
TMU_SetMode(CH0,pTMU_RiseToRise,pImpedance_1MOhm, pTMU_Vrange_10V,pFilter_0ns,3,5,pHighAccuracy); TMU_TDC_Init(CH0); DelaymS(2); TMU_TDC_Measure(CH0); //0通道使用高速低压模式测量两个波形信号上升沿时间差,第一个信号触发电压3V,第二个信号触发电压5V。
在一定时间内对波形计数
| 通道号 | 时间(0.01~200mS) | |
| TMU_WaveCountStart | 0,1,2,3 |
放在 TMUSetmode 后、波形前.。波形计数时 TMU 的测量模式只能是上升沿模式或者下降沿模式,精度模式为低速
返回波形计数的数量
| 通道号 | |
| TMU_WaveCountMeasure | 0,1,2,3 |
TMU_SetMode(CH0,pTMU_Rise,pImpedance_1MOhm,pTMU_Vrange_10V,pFilter_100ns,2,4,pLowAccuracy); DelaymS(2); TMU_WaveCountStart(CH0,1); DelaymS(1); TMU_WaveCountMeasure(CH0); //0通道统计1ms内波形的数量。
清除抖频中的地址、数据信息
| 通道号 | |
| TMU_RamAddClear | 0,1,2,3 |
获取指定地址的测量结果
| 地址(0~1023) | |
| TMU_RamAddClear | 0,1,2,3 |
抖频可以测量不规范波形的时间参数,此函数放置在波形到来之后。