在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性源于两方面原因。首先，CP 测试虽能有效评估芯片性能，但受限于在 Wafer 层面通过 Probing 探针接触的方式，其测试的电源功率和频率均受到一定限制。其次，芯片在封装过程中，可能因工艺等因素造成一定程度的损伤。因此…

程序框架 全局函数 全局函数大部分以 STS 开始，如 STSSetMultiSite () 非全局函数需要在函数前添加通道号，如 fovi0.MeasureVI () BEGIN_SINGLE_SITE() END_SINGLE_SITE() 对某一工位单独进行操作，可配合 for 循环进行串行测试 dvi0.Set(FV,0,DVI400_20…

什么是 CP 测试 CP 测试，英文全称 Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试 - 个 Die 都能满足器件对象是整片 wafer 的每一个 Die，目的是确保整片 wafer 中的每一的特征或者设计规格书，通常包括电压、电流、时序和功能的验证。同时也可以用来检测 fab 厂制造的工艺水平。 第一个黑…

继电器在原理图中起到控制切换电路的作用，本质上是可以控制的开关。通过对线圈通电或断电，实现触点的吸合或关闭，测试板上之所以有很多的继电器，是因为测试项不同，芯片各个引脚所需的条件是不一样的，比如对于 VIN 来说，有时候需要上电 5V，有时候需要悬空，有时候需要接电容后再接地，那么我们就需要搭建好电路，只需控制线圈得电和失电就能实现电路的切换。 T…

ATE 与 ATS ATE/ATS 即自动测试设备 / 自动测试系统，也称测试机，是测试工程师在 IC 测试中必须使用的工具。 ATS 通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示或输出测试结果的系统称为自动测试系统，简称 ATS（Automated Test System），这种技术我们称之为自动测试技…

接口类型 无需上拉电阻 电路内部已连接到电源，通常内部为互补CMOS *互补CMOS电路节点为一对互补的PMOS和NMOS串联形成反相器或NOT门 需要上拉电阻 电路内部仅接地，未连接电源，通常内部仅下拉NMOS，需要弱上拉电阻，称为开漏输出。 接口状态 R/W控制读写状态，Read Tri-State读取当前状态为读或写。 读状态 写R标志位，R…

一些异形封装的焊盘需要由两个或以上不规则的（即不是标准圆、矩形、椭园等）焊盘堆叠起来新形成的焊盘，或者用铜片与焊盘进行结合，这种焊盘多见于一些按键、电源 IC 等。绘制这些焊盘时需要根据器件封装信息尺寸确定焊盘长宽尺寸及坐标位置。 SOT-233 SOT-233 焊盘如图所示 其封装信息描述如下 与手动创建封装类以，必须先确定焊盘长度 / 宽度及坐…

硬件资源板卡 板卡名称说明资源类型FOVI八路浮动电压电流源电源类FPVI浮动双通道功率电压电流源FHVI精密浮动高压电压电流源TIF测试系统接口单元信号类CBIT128用户继电器驱动单元TMU四路时间测量单元DIO数字测试模块HAD4高精度差分测量模块TPS高精度时间测量单元 系统函数 延时等待  等待时间 mSDelaymS1 等待时…

1.移动元件时可按TAB键翻转。 2.加任何形状的孔（包括方形元件脚）：可在24层用二维线画。 3.加裸铜（即阻焊，在加大导通电流和增加焊接附着力时经常用到）用铺铜功能在28层加。 4.把当前板用到的元件封装存入自已的库：圈住所有元件按右键选SAVE TO LIB…,再选所需的库即可.(把别人的库占为已有算是不费吹灰之力) 5.在PADS把二维线图…

游戏说明 本游戏分 DrumMania（鼓点模式）和 GuitarFreak（吉他模式），两个模式操作完全不一样，在 spicecfg 分别设置键位请用游戏目录里的两个 bat 选择吉他或鼓模式启动如果出了问题请看备注的英文教程（这个教程是旧版本的，但可以通用）游戏自带官中，刷卡后即可选择推荐使用电吉他或电鼓游玩 安装教程 1. 下载游戏本体2. …