IC老化测试 电路硬件 | 265 | 0 | 2025-1-26 17:50 1486 字 | 6 分钟 半导体器件的可靠性和典型寿命通常可以用浴盆曲线来描述。浴盆曲线是一个产品寿命随时间的变化图形,由三个关键时期组成。第一个时期是早期失效期,特点是产品失效率起始值很高,随后急速下降。这一时期的失效主要是… IC老化测试芯片测试