标签: 老化测试

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IC老化测试
半导体器件的可靠性和典型寿命通常可以用浴盆曲线来描述。浴盆曲线是一个产品寿命随时间的变化图形,由三个关键时期组成。第一个时期是早期失效期,特点是产品失效率起始值很高,随后急速下降。这一时期的失效主要是…