Natsume_saki – 第 3 页

LOG-0186 2024.10.09 05 MIN

JTAG (Joint Test Action Group，联合测试工作组) 是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1 兼容），主要用于芯片内部测试。…

LOG-0185 2024.10.02 01 MIN

因为受不了商用水电，加上11号线早高峰除非是起始站不然基本不会有座位，于是从嘉定住了三年多的 loft 搬到了金山海边。看了很…

LOG-0342 2024.09.15 02 MIN

[alert color="green"]当前最新版本：Re:fresh[/alert] [alert color="green"]本站所有街机音游教程及资源均经过验证可以正常运…

LOG-0108 2024.09.15 04 MIN

** 在尝试在线运行 Museca Plus 之前，请咨询您的网络服务器提供商或使用本地网络。 *Museca Plus 包括三首被删除的官方歌曲 MA…

LOG-0192 2024.09.09 05 MIN

在各种物理量测试仪器的测试能力评价中，常会用到精度、准确度和分辨率等参数，这些参数非常容易混淆，从而带来理解上的混乱甚…

LOG-0190 2024.09.09 04 MIN

Local sensing 和 remote sensing 是两种在电子测试设备中用于确保准确电压输出的技术。 Local Sensing： Local sensing 是指测…

LOG-0197 2024.07.23 05 MIN

如下图所示的电路中，当开关从闭合转为断开时，由于电感电流不会突变，电压会发生骤升出现尖峰。这一尖峰电压可能导致把开关和…

LOG-0214 2024.07.22 02 MIN

在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性…

LOG-0235 2024.07.19 25 MIN

程序框架全局函数全局函数大部分以 STS 开始，如 STSSetMultiSite () 非全局函数需要在函数前添加通道号，如 fovi0.MeasureVI…

LOG-0224 2024.07.19 05 MIN

什么是 CP 测试 CP 测试，英文全称 Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试 - 个 Die 都能满足器件对象是…

LOG-0318 2024.07.04 01 MIN

继电器在原理图中起到控制切换电路的作用，本质上是可以控制的开关。通过对线圈通电或断电，实现触点的吸合或关闭，测试板上之…

LOG-0348 2024.07.03 08 MIN

ATE 与 ATS ATE/ATS 即自动测试设备 / 自动测试系统，也称测试机，是测试工程师在 IC 测试中必须使用的工具。 ATS 通常将…