在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性源于两方面原因。首先，CP测试虽能有效评估芯片性能，但受限于在Wafer…

什么是CP测试 CP测试，英文全称Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试-个Die都能满足器件对象是整片wafer的每一个Die，目的是确保整片wafer…

ATE与ATS ATE/ATS即自动测试设备/自动测试系统，也称测试机，是测试工程师在IC测试中必须使用的工具。 ATS 通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示…

长川CTA8280测试机配置参数及编程函数说明