Pattern在芯片测试行业通常表示需要测试芯片的时序特征。在测试芯片的过程中，ATE机台会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的时序，而在芯片的输出管脚比较输出时序，由此测试芯片是否满足其功能。狭义上可…

半导体器件的可靠性和典型寿命通常可以用浴盆曲线来描述。浴盆曲线是一个产品寿命随时间的变化图形，由三个关键时期组成。第一个时期是早期失效期，特点是产品失效率起始值很高，随后急速下降。这一时期的失效主要是…

在各种物理量测试仪器的测试能力评价中，常会用到精度、准确度和分辨率等参数，这些参数非常容易混淆，从而带来理解上的混乱甚至认识误区。

在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性源于两方面原因。首先，CP测试虽能有效评估芯片性能，但受限于在Wafer…

什么是CP测试 CP测试，英文全称Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试-个Die都能满足器件对象是整片wafer的每一个Die，目的是确保整片wafer…

ATE与ATS ATE/ATS即自动测试设备/自动测试系统，也称测试机，是测试工程师在IC测试中必须使用的工具。 ATS 通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示…

长川CTA8280测试机配置参数及编程函数说明