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FT测试
在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前,为确保其功能和质量达标,必须再次对功能进行最终测试(Final Test)。此举的必要性源于两方面原因。首先,CP测试虽能有效评估芯片性能,但受限于在Wafer…