Local sensing 和 remote sensing 是两种在电子测试设备中用于确保准确电压输出的技术。 Local Sensing： Local sensing 是指测量设备输出端点上的电压…

在各种物理量测试仪器的测试能力评价中，常会用到精度、准确度和分辨率等参数，这些参数非常容易混淆，从而带来理解上的混乱甚至认识误区。

如下图所示的电路中，当开关从闭合转为断开时，由于电感电流不会突变，电压会发生骤升出现尖峰。这一尖峰电压可能导致把开关和其他电子元件击穿。 为消除尖峰，可以给电感并连一个电容，将多余的能量转移给电容充电…

在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性源于两方面原因。首先，CP测试虽能有效评估芯片性能，但受限于在Wafer…

什么是CP测试 CP测试，英文全称Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试-个Die都能满足器件对象是整片wafer的每一个Die，目的是确保整片wafer…

CTA8200 批量设置通道 struct { int VCC; int FB; int DEM; int CS; int PVDD1; int Test17; }AP={0,1,2,3,4,5}; …

程序框架 全局函数 全局函数大部分以STS开始，如STSSetMultiSite() 非全局函数需要在函数前添加通道号，如fovi0.MeasureVI() BEGIN_SINGLE_SITE() E…

STS8200 CP 线宽：标准15，DIO/FXVI-L接线20，FXVI-H30，电源/GND40 按loadboard定义引出J1-J3引脚 对FH和SH中仅引出一根的，连接FH和SH

继电器在原理图中起到控制切换电路的作用，本质上是可以控制的开关。通过对线圈通电或断电，实现触点的吸合或关闭，测试板上之所以有很多的继电器，是因为测试项不同，芯片各个引脚所需的条件是不一样的，比如对于V…

ATE与ATS ATE/ATS即自动测试设备/自动测试系统，也称测试机，是测试工程师在IC测试中必须使用的工具。 ATS 通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示…