Pattern在芯片测试行业通常表示需要测试芯片的时序特征。在测试芯片的过程中，ATE机台会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的时序，而在芯片的输出管脚比较输出时序，由此测试芯片是否满足其功能。狭义上可以将测试pattern理解为芯片的真值表。

与IC设计产生的时序不同，一般测试用的Pattern中的时序都是分割好周期的。而不同ATE公司之间的Pattern其语法是不一样的，由此也诞生了IC测试服务。一般来说各大ATE厂商都有自己的服务部门提供本公司机台的Conversion服务，但也有一些公司专门提供这方面的服务，即帮助各种客户解决不同ATE平台之间的Pattern和测试代码的转换。

Pattern内一般包含如下信息：Vector向量、Timing时序、level电平、Pin引脚

向量根据存储方式的不同，可以分为三种不同的时间/状态分配格式。

第一种是 TABULAR 格式，也是最常见的一种格式。其特征是一系列Vector码流，其中包含定义的所有引脚的时间信息和顺序排列的状态信息。横向为同一时间下各个引脚的状态，纵向为每个引脚在不同时间下的状态，随时间的增加从上到下依次运行。TABULAR 格式的示例如下：

1221 > 55,01,01,00,5f,73,00,00

或

400.2 ns 0 0 1 Z 1 1 0 0 111 000

第二种矢量格式是 SCRIPT 格式，其特征是单个 pin 状态和 timing 时间戳的组合。数据包含引脚名称，引脚当前的状态，以及引脚上从另一状态转换到当前状态的时间。运行时从上到下依据各个状态的时间戳切换对应引脚状态。 SCRIPT 格式的示例如下：

pin1 = 1;
time = 1044;
pin3 = 0;
time = 1121;
pin1 = 1;
time = 1239;
pin3 = 2;
time = 1505;

Verilog VCD格式就属于这一类。

第三种矢量格式是 WAVE 格式，其特征是每个引脚的所有时间和状态信息单独分组。数据中先给出了第一个引脚的所有时间/状态信息，然后是第二个、第三个引脚，依此类推。 WAVE格式的示例如下：

Wfm pin1 @ons=0 @12ns=1 @124ns=0 @399ns=Z;
Wfm pin2 @0ns=1 @17ns=0 @113ns=1 @370ns=X;

向量内的码值和定义如下：