热敏电阻是一种传感器电阻，其电阻值随着温度的变化而改变。按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻（PTC thermistor，即 Positive Temperature Coefficient th…

简单来说，一组Bank就是共用一个电源的一组I/O管脚。 为了提高器件使用灵活性，便于管理和适应多种电器标准，FPGA器件的IO引脚被划分为若干个组（bank），连接到同一个外部电压下。每个bank的…

磁珠的全称为铁氧体磁珠滤波器(另有一种是非晶合金磁性材料制作的磁珠)，是一种抗干扰元件，滤除高频噪声效果显著。 本质上来说，磁珠其实就是单匝的线圈，而电感是多匝的线圈。有一匝以上的线圈习惯称为电感线圈…

 JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、…

Local sensing 和 remote sensing 是两种在电子测试设备中用于确保准确电压输出的技术。 Local Sensing： Local sensing 是指测量设备输出端点上的电压…

在各种物理量测试仪器的测试能力评价中，常会用到精度、准确度和分辨率等参数，这些参数非常容易混淆，从而带来理解上的混乱甚至认识误区。

如下图所示的电路中，当开关从闭合转为断开时，由于电感电流不会突变，电压会发生骤升出现尖峰。这一尖峰电压可能导致把开关和其他电子元件击穿。 为消除尖峰，可以给电感并连一个电容，将多余的能量转移给电容充电…

在芯片正式出货并交付给终端产品客户之前，为确保其功能和质量达标，必须再次对功能进行最终测试（Final Test）。此举的必要性源于两方面原因。首先，CP测试虽能有效评估芯片性能，但受限于在Wafer…

什么是CP测试 CP测试，英文全称Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试或中测，测试-个Die都能满足器件对象是整片wafer的每一个Die，目的是确保整片wafer…

继电器在原理图中起到控制切换电路的作用，本质上是可以控制的开关。通过对线圈通电或断电，实现触点的吸合或关闭，测试板上之所以有很多的继电器，是因为测试项不同，芯片各个引脚所需的条件是不一样的，比如对于V…